VC-250 传感器光谱响应测量系统

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产品介绍

概要

该系统测量光电转换元件（如光电二极管和CCD/CMOS图像传感器）的光谱特性（光谱响应和光谱响应度）。

该系统可实时监控波长的光强度，控制单元可以生成具有恒定能量（W/cm2）或恒定数量的光子（光子/cm2）的单色光进行样品照射。

特性

● 适用于评估光电二极管和CCD/CMOS图像传感器的光谱特性
● 单色光的可变光强度高达 3 digits
● 利用光强实时反馈机制消除参考值
● 光谱特性（光谱响应/光谱响应度）可通过软件设定的能量或光子数轻松测量
● I-V测量可在配备可选附件的波长设置下进行测量
● 支持外部控制模式。可通过GP-IB接口（CCD和CMOS图像传感器）由主计算机控制命令进行操作

详细参数

波长范围	300 ~1300nm (1700nm可选 )
辐照强度	恒定能量 : 1 ~ 50μW/cm2 恒定光子数 : 1×1014photon/cm2･sec
光强度控制	实时光强度反馈系统
辐射面积	10×10mm ( 40×40mm 可选)
面内均匀性	±2.5% 以内
波长纯度	约10nm
发射光	DC光
幅射光	垂直照射
辐射强度恒定性	±2.5% 以内
光强度重复性	±2.0% 以内

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